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QCM-D 耗散型石英晶体分析仪 X1 FCU Pro
原理介绍X1系列耗散型石英晶体分析仪基于zl的QCM-D技术,可精确测量石英芯片表面质量和结构变化,提供实时的表面相互作用信息,如吸脱附过程、分子相互作用、蛋白质构象变化等。QCM-D技术基于声波在
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AWS耗散型石英晶体微天平X1
AWS X1石英晶体微天平基于声波传感原理,可通过石英传感器频率和耗散变化来检测芯片表面质量和结构变化。适用于刚性和粘弹性薄膜,具有倍频操作模式,可给出薄膜的粘度,弹性模量,粘性模量,厚度等
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QCMD石英晶体分析仪AWS X4
5-160MHz,灵敏度可达0.05ng/cm2。产品名称:QCM-D耗散型石英晶体分析仪产品型号:AWS X4 X4系列耗散型石英晶体分析仪基于zl的QCM-D技术,可精确测量石英芯片表面质量和结构
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QSense Initiator 耗散型石英晶体微天平
耗散因子精度 ~0.1*10-6,~0.04*10-6耗散型石英晶体微天平分析仪QSense Initiator是一款继上代产品之后强化了其核心功能的QCM-D仪器● 实时追踪分子运动
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NSK-T(II)型QCM-D高频多功能石英晶体微天平
NSK-T(II)型高频石英晶体微天平分析仪是本公司独自开发的多功能一体化QCM-D型质量传感检测仪器,工作频率可达200MHz,精确测量纳克级甚至皮克级物质质量的传感技术。仪器通过快速频谱扫描技术
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QCM-I石英晶体微天平
)。 测量原理是基于石英晶体的阻抗分析。 确定谐振频率和谐振电导曲线的带宽。 半带宽或全宽,半带宽(FWHM)与质量因子(Q)直接相关,质量因子(Q)定义为耗散的倒数(D)。 QCM-I特点: 测量
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QSense卓越版四通道石英晶体微天平
**********耗散型石英晶体微天平(QCM-D)QSense Analyzer的技术参数**********传感器数量4个传感器上方体积~40 μL最小样品体积~300 μL工作温度15-65
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高频石英晶体微天平生物传感仪NSK-T(III)
(III)型高频石英晶体微天平分析仪是本公司独自开发的多功能一体化QCM-D型质量传感检测仪器,工作频率可达400MHz,精确测量纳克级甚至皮克级物质质量的传感技术。 创新点:高频石英晶体微
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QSense全自动八通道石英晶体微天平
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3T analytik 石英晶体微天平QCM-D qCell T
我们开发和生产具有高质量、高可靠性、高灵敏度的创新性产品。3T公司主打产品之一耗散型石英晶体微天平QCM-D,采用实时表面传感技术,通过分析芯片表面频率与耗散双重参数变化,可获得吸附层相应的质量、吸附
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